SIM convida para a conferência Metrologia para a Transformação Digital

Inscrições estão abertas até o dia 27 de agosto

Publicado em 24/08/2021 17h55 Atualizado em 25/11/2022 11h10

Estão abertas as inscrições para a Conferência Anual 2021 “Metrologia para a Transformação Digital”, que acontecerá virtualmente, nos dias 1º e 2 de setembro. O evento é promovido pelo grupo de trabalho M4DT - Metrology for digital transformation - do Sistema Interamericano de Metrologia (SIM) e conta com a participação de Rodolfo Souza, representante do Inmetro no SIM, como um dos organizadores, e ainda com dois servidores do Instituto como palestrantes: Carlos Galhardo e Werickson Rocha.

Serão apresentados, nos dois dias, os avanços e desafios do campo metrológico em um ambiente de transformação digital. As discussões abordarão temas atuais como a certificação de calibração digital, interface da metrologia com mineração de dados e machine learning, entre outros. Participarão representantes dos Institutos Nacionais de Metrologia de todo mundo, além dos laboratórios de calibração e a diversos setores da indústria.

As inscrições podem ser feitas até o dia 27/08. Os inscritos receberão os detalhes de conexão para participação.