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II Encontro Internacional
Organizações internacionais estarão representadas no encontro promovido pelo Inmetro, em parceria com o Instituto Nacional de Tecnologia (INT), Movimento Brasil Competitivo (MBC) e Sebrae Nacional.
Confira alguns dos palestrantes internacionais presentes no encontro:
Hratch Semerjian – Diretor do National Institute Standards and Technology (NIST), nos Estados Unidos, Hratch Semerjian é Ph.D em Engenharia pela Brown University, assumiu o cargo no mês de julho deste ano, sendo responsável pela operação total do Instituto, incluindo gerência financeira, recursos humanos e tecnologia da informação. O NIST é o órgão responsável, entre outros, pela padronização, metrologia, competitividade e pelo Baldrige National Quality Program, prêmio nacional da qualidade nos Estados Unidos.
John Donaldson – é o representante da International Organization for Standardization Conformity Assessment Committee (ISO/CASCO). Ele abordará o tema Qualidade Mundial.
Terry Quinn – O diretor geral do Bureau International des Poids et Mesures (BIPM), Terry Quinn, apresenta a palestra Metrologia, Inovação e Competitividade – visão do BIPM. O BIPM, com sede em Paris, na França, é o órgão responsável pela formatação do Sistema Internacional de Unidades (SI) e pelas comparações entre os diversos sistemas no mundo (como medidas de massa, eletricidade e velocidade).
Mais informações e inscrições na Capacità Eventos, pelo telefone (51) 3231.3000 ou pelo site