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Balística Forense
Os técnicos da Divisão de Metrologia de Materiais do Inmetro, Jorge Trota Filho e Lídia Ágata de Sena participaram do I Seminário de Balística Forense Avançada, no Instituto Militar de Engenharia do Exército (IME), no Rio de Janeiro.
Publicado em
03/09/2004 00h00
Atualizado em
25/11/2022 14h03
O seminário tratou da apresentação e discussão de técnicas avançadas de microscopia eletrônica de varredura e suas aplicações na área forense e práticas de análise das amostras. Participam do evento, que começou na quarta-feira (dia 1º ) e terminou dia 3, pesquisadores e microscopistas do Brasil que fazem uso do microscópio eletrônico de varredura (MEV) em suas pesquisas.