Programa de Pós-Graduação em Metrologia

Publicado em 23/06/2020 18h52 Atualizado em 03/10/2024 12h48

Pós-graduação em metrologia

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O Programa de Pós-Graduação em Metrologia é reconhecido pelo Ministério da Educação por meio da Portaria Nº 485, de 14/05/2020.

Os cursos de doutorado e mestrado acadêmico em Metrologia tem por objetivo a formação de profissionais habilitados a desenvolver pesquisas com medições e calibrações que dão suporte às novas recomendações do Bureau Internacional de Pesos e Medidas (BIPM) e aos novos desafios metrológicos de áreas das ciências físicas, químicas e biológicas com o integração às soluções de tecnologia da informação, comunicação, matemática e engenharias.

Áreas de concentração e linhas de pesquisa

Área de Concentração

Ciência da medição e suas aplicações - a metrologia possui um arcabouço de conhecimentos técnicos e práticos que podem servir para diversas aplicações em áreas científicas a partir da busca na excelência da capacidade de medição nas diversas áreas das ciências e engenharias.

Linhas de Pesquisa

Métodos avançados de medição - além da atuação em metrologia científica e industrial, a metrologia possui aspectos de desenvolvimento de novos materiais de referência e novos métodos de medição em várias áreas de aplicação tecnológica. Como exemplo, destacamos o apoio para o desenvolvimento de métodos de medição e materiais de referência para ciências forenses, dando origem a uma metrologia forense que propicia confiabilidade para as medições necessárias para essa área. Também são desenvolvidos novos métodos de medição em ultrassom com maior foco nos aspectos quantitativos da medição na área, integrando métodos fotoacústicos para uso em aplicações biomédicas. Outro aspecto interessante dessa linha de pesquisa é o desenvolvimento de métodos computacionais para maior integração entre as ciências físicas, químicas e biológicas com uso de algoritmos de genômica computacional.

Os objetivos dessa linha de pesquisa são:

Desenvolver e aprimorar métodos de medição
Comissionar novas tecnologias em metrologia
Realizar pesquisa pura e aplicada em metrologia

Para atingir esses objetivos, essa Linha de pesquisa é apoiada pelo desenvolvimento de quatro projetos:

Metrologia forense
Ultrassom quantitativo e fotoacústica
Genômica computacional
Medição e processamento de imagens

Suporte ao desenvolvimento tecnológico industrial - a metrologia é uma área do conhecimento importante para dar suporte ao desenvolvimento de tecnologia industrial básica e gerar inovação em novos processos. No âmbito da metrologia científica, é dado apoio ao uso de referências metrológicas de acordo com a padronização das unidades do SI. No âmbito da metrologia industrial, é propiciado o desenvolvimento de capacidades de medição e calibração para a disseminação das unidades do SI. A metrologia também é utilizada para desenvolvimento de tecnologias nas áreas de nanotecnologia e biotecnologia, com destaque para os métodos de medição e referências para a nanobiometrologia. Adicionalmente, as demandas atuais de inovação nos processos industriais demandam integração de soluções de tecnologia da informação e comunicação (TIC) aos processos metrológicos de controle e monitoração desses processos, dando suporte à implantação e desenvolvimento da Indústria 4.0. Além dessas demandas, o uso de soluções de TIC podem auxiliar no aumento da confiabilidade dos sistemas, dispositivos e equipamentos usados para realizar medição e verificação nas ações de metrologia legal.

Os objetivos dessa linha de pesquisa são: