Laboratório de Microscopia Eletrônica de Varredura
O Laboratório de Microscopia Eletrônica do CDTN é composto por um microscópio eletrônico de varredura com emissão por efeito de campo (FEG-MEV), modelo SIGMA VP, fabricado pela Carl Zeiss Microscopy. O equipamento opera nos modos de alto vácuo e de pressão variável (VP). No modo VP, é possível obter imagens de materiais não condutores de eletricidade, sem a necessidade de aplicação de recobrimentos condutores. Um diferencial do microscópio é coluna GEMINI®, cujo projeto permite que se obtenha excelente qualidade de imagens mesmo operando com baixas voltagens.
O equipamento dispõe de quatro detectores, sendo três detectores (2 para alto vácuo e um para pressão variável) de elétrons secundários, para obtenção de imagens a partir de contraste de topografia, e um detector de elétrons retroespalhados, para imagens obtidas a partir de contraste de número atômico.
O microscópio possui também um sistema de microanálise constituído por espectrômetro de energia dispersiva de raios X (EDS), modelo XFlash 410-M, fornecido pela Bruker Nano GmbH. O sistema é controlado pelo software ESPRIT e é capaz de realizar análises pontuais, varreduras em linha e obtenção de mapas de distribuição de elementos.
No equipamento é possível analisar amostras metálicas, minerais, materiais magnéticos, polímeros, nanotubos de carbono, materiais biocompatíveis e cerâmicas, com estruturas na escala nanométrica.
As especificações técnicas de fábrica do FEG-MEV SIGMA VP são listadas na Tabela abaixo.
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Resolução |
1,3 nm a 20 kV 1,5 nm a 15 kV 2.8 nm a 1 kV 2,5 nm a 30 kV, no modo VP |
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Tensão de aceleração |
0,1 – 30 kV |
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Corrente na amostra |
4 pA a 20 nA |
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Magnificação |
12x – 1.000.000x |
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Emissor de elétrons |
Emissão de campo térmica Schottky |
Contato
Unidade Multiusuário de Materiais Avançados - agendamentos.granioter@cdtn.br - Tel: +55 31 3439-9394
